Latchup Tester

Den Latch-Up-Effekt (englisch Single Event Latch-Up) bezeichnet das Zünden (Durchschalten) eines parasitären Thyristors. Dadurch wird die Versorgungsspannung kurzgeschlossen. Sind keine Schutzmaßnahmen vorhanden, kann der Halbleiter durch den sehr großen fließenden Strom thermisch zerstört werden. Ausgelöst wird dieser Effekt durch eine kurze elektrische Spannungsspitze (Bsp. Überspannung oder elektrostatische Entladung) oder durch die falsche Reihenfolge der Zuschaltung der Versorgungsspannungen (power up sequencing).  

Der LatchupTester kann Bauelemente nach Jedec 78A  (IC Latch-Up Test) untersuchen.

 

 

 

Merkmale und Vorteile

  • Quellbereich von 5 µV bis 200 V und 50 pA bis 1A möglich
  • modularer Aufbau aus Standardkomponenten
  • frei skalierbarer Systemaufbau in Pinzahl und SMU-Bestückung
  • kundenspezfische Schnittstellenlösungen
  • Datenerfassung, -speicherung und -auswertung

 

Links

Service

Sie haben Fragen oder suchen eine Lösung für Ihr Problem? Wir beraten Sie gern und unverbindlich. Wünschen Sie einen Rückruf ?

© 2009 Automatisierungstechnik Voigt GmbH