Elektromigrationstester

Der Elektromigrationstester dient dazu, Bauteile (DUTs) einem kontrollierten elektronischen Stress auszusetzen und damit dem Prozess der Elektromigration auszulösen und messtechnisch zu erfassen. Diese Messungen dienen vor allem der Abschätzung der Lebensdauer integrierter Schaltungen.

Elektromigration

Unter Elektromigration versteht man einen Materialtransport durch allmähliche Bewegung von Ionen in einem festen Leiter, der durch den elektrischen Strom verursacht wird. Infolge dieser Wanderbewegung bilden sich im Material an einigen Stellen Lücken (Voids) und an anderen Stellen Häufungen (Hillocks) heraus. Diese können Kurzschlüsse oder eine Zerstörung der Leitbahnstruktur zur Folge haben. Aufgrund der kontinueierlichen Miniaturisierung von elektronischen Bauelementen ist die Elektromigration ein wichtiges Thema zur Verringerung von Ausfällen elektronischer Bauelemente geworden.

Merkmale und Vorteile